许多自动化电气测试设备在芯片密封测试工厂的端段，芯片的静电荷源在ATE设备中，主要包括：

1、搬运机器人真空喷嘴，将芯片拾取并放置在芯片绝缘封装外壳上，静电的积累;

2、测试插座中的芯片装卸过程，导致测试插座的芯片取向部分积聚静电。

要解决芯片在ATE设备中出现ESD故障，关键在于芯片在自动取放过程中的静电荷水平可以控制到位，具体来说，通过ATE相关的取放机理进行ESD转换，并将芯片在测试座区域的取放电离过程中消除静电技术手段要实现。

问题：

通过 ATE 测试生产的同一批芯片将比未进行 ATE 测试的芯片具有更高的电气废品（这很好地表明 ATE 设备的 ESD 保护不到位）。

溶液：

1、为防止从喷嘴上拾取和掉屑时剥离放电造成静电损坏，安装Tronovo静电消散棒。

2、安装距离产品表面30厘米

3、连接清洁的压缩空气，并根据现场情况调节风量。

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